系統概述
LET-2000D系列是力鈦科公司結合Lecroy的產品特點和優勢開發出的滿足IEC60747-8/9、JESD2標準的半導體動態參數分析系統。旨在幫助工程師解決器件驗證、器件參數評估、驅動設計、PCB設計等需要半導體動態參數的場景所遇到的困難。特別對于第三代半導體的測試， LET2000D有著較高的系統帶寬和測試精度，可以有效準確的測量出實 際的器件參數。

動態參數測試系統硬件優勢

1.  采用全球最先發布的12 bit 示波器：正確反映波形的細節，并準確計算出參數

2.  采用全球首先發布的光隔離、高CMRR探頭系統，解決SIC/GAN的 測試難點

3.  高帶寬的電壓和電流探測，彌補一般系統對SIC/GAN的測量要求

4.  可以滿足上/下管測試，避免頻繁連接探頭

5.  電壓覆蓋范圍寬、并可以再次擴展

6.  器件驅動設計支持SIC/GAN器件

7.  系統帶寬：>400MHz

8.  系統可以定制

動態參數測試系統軟件特點

 1.  測量參數齊全：開關參數、短路參數、反向恢復參數、雪崩測試

 2.  支持器件類型多：單管/模塊、MOSFET、IGBT、FWD、GTR …

 3.  測試方式：單脈沖、多脈沖

 4.  離線數據分析：既可以在線測量，也可以記錄數據離線分析

 5. 測試UI符合工程師的使用習慣

 6. 測量項目及器件支持擴展

系統參數
●  測量電壓：標配2000V覆蓋650V,1200V,1700V器件的測試。 可升級到10000V。
●  測量電流：標配200A，覆蓋單管、及部分模塊的測量。 可升級到6000A。
●  短路電流：2000A-10000A
●  測量參數：Vce/Vds,Ic/Id,Vgs/Vge,toff, td(off), tf(Ic),Eoff, Ton, td(on), tr(Ic), Eon, dI/dt, dv/dt, Err, Qrr, trr, Irr 等。
●  測量項目： 開關參數、短路參數、反向恢復參數、雪崩能量測試等
●  測量器件：單管/模塊，MOSFET、IGBT、FWD、GTR…
●  系統帶寬：350MHz、500MHz、1GHz
●  測量通道：4CH
●  雙脈沖脈寬：20ns~1000us。
●  雙脈沖數：單脈沖、2-30脈沖
●  測量依據標準：IEC60747-8 and IEC60747-9、 JEDEC JEP173

LET-2000D的應用
? 功率半導體的來料檢驗
? 功率半導體的動態參數驗證
? 實驗室的器件評估
? 實驗室的驅動設計改善
? 實驗室的PCB設計評估
? 功率半導體的生產檢驗和篩選

測試項目